必要时需要进行脑CT检查，尤其是对于反复发作的高热惊厥患者。
高热惊厥是小儿时期常见的急诊之一，但通常预后良好，不需要常规进行脑CT检查。然而，对于某些特殊情况，如频繁发作、存在家族史或其他潜在疾病风险因素者，为排除其他病因所致的惊厥，评估病情及制定治疗方案，此时进行脑CT扫描是有必要的。
由于高热惊厥可能与遗传有关，因此有家族史的儿童发生高热惊厥的风险较高。
此外，当患儿本身存在免疫缺陷病或代谢性疾病时，也可能会出现高热惊厥的现象。
在诊断高热惊厥时，应考虑其与脑部结构异常或其他潜在疾病的关联性，并结合临床表现和既往史综合判断是否需行脑CT检查。家长平时应注意孩子的体温变化，及时采取降温措施以预防高热惊厥的发生。
