颅脑检查可以通过头颅X线平片、CT扫描、MRI成像、脑电图、正电子发射断层扫描等方法进行。由于颅脑疾病的诊断和治疗需要专业医生的指导，建议患者及时就医以获得准确的诊断和治疗。

1.头颅X线平片

头颅X线平片用于评估颅骨结构和异常情况。患者仰卧于放射机台上，医生会指示其移动头部以拍摄不同角度的照片。

2.CT扫描

CT扫描能够提供详细的解剖信息以及软组织对比度高，有助于发现颅内出血、肿瘤等问题。

患者躺在专用床上进入圆筒形机器内部，在短时间内接受多次X射线照射并由计算机处理数据。

3.MRI成像

MRI成像是无辐射的影像学检查方法，对于软组织分辨率较高，可显示细微结构差异。患者躺在封闭式磁共振仪器内的平板上，利用强磁场和无线电波获取身体信息。

4.脑电图

脑电图通过记录大脑活动来评估神经功能状态。使用电极固定在头皮上捕捉电信号，并连接到记录仪进行分析。

5.正电子发射断层扫描

PET-CT能显示大脑的功能状态及代谢活性分布。静脉注射含正电子核素标记化合物后进行图像采集，通常需等待数小时以便示踪剂分布均匀。

以上各项检查前应遵循医嘱禁食或限制饮水，确保身体健康状况适宜进行相应检查。若有特殊病情或疑虑，请务必告知医生。